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场发射扫描电镜

发布时间:2021-07-23
产品型号:DM750
所属分类:电子显微镜
描述: DM750场发射扫描电镜 束流大小:1pA~40nA,电子束驻留时间:≥20ns(视频级成像)。 镜筒内置韦恩过滤器,确保镜筒内探测器接受效率。 透镜系统:多级高性能透镜系统,低像差锥形物镜。 物镜光阑:三孔光阑,可实现真空外二维双轴微米级精细调节,保留手动调节功能。
详情介绍

产品特点:

束流大小:1pA~40nA,电子束驻留时间:≥20ns(视频级成像)。

镜筒内置韦恩过滤器,确保镜筒内探测器接受效率。

透镜系统:多级高性能透镜系统,低像差锥形物镜。

物镜光阑:三孔光阑,可实现真空外二维双轴微米级精细调节,保留手动调节功能。

不少于14个可扩展接口,可接 WDS、EDS、BSE、EBSD等多种探测器

技术指标:

 

分辨率

二次电子分辨率:0.8nm@15kV(SE),1.5nm@1kV(SE),      背散射电子分辨率:2.5nm@30kV(BSE)

放大倍数

底片放大倍率范围≥1X-3000000X,光学放大≥100倍

电子枪

肖特基热场发射电子枪

加速电压

20V~30kV,连续可调

自动调整功能

自动对中、聚焦、亮度、对比度、消像散

探测器

高真空二次电子探测器、背散射电子探测器、红外CCD,束流测量装置,光学导航

真空系统

一套溅射离子泵+一套吸气剂离子复合泵,一套涡轮分子泵,一套机械泵;样品室真空≤1E-4Pa,电子枪仓真空≤2E-7 Pa;全自动真空控制,具有真空互锁功能。

样品台

五轴全自动优中心样品台,真空内置电机,

样品台行程: X≥150mm, Y≥150mm, Z≥60mm,

                       T≥-5°~+75°,  R=360°。

能谱仪

探测器:硅漂移探测器

有效晶体面积:30mm2

元素探测范围:B(5) ~ Cf(98)

分辨率:Mn Kα≤129eV @100,000cps

较大输入计数率   >1,000,000cps

定量分析计数率   >100,000cps

1个探测器,2个图像通道

图像分辨率:最大8K(可调节)

X射线扫描分辨率:最大8K

应用定性及定量分析方法

具有图谱采集功能

溅射仪

离子溅射仪工作原理:磁控溅射

可选靶材:金,铂,金钯合金,铅,银,铜,铬,锑等

全自动操作,简单易用,非常适用钨灯丝、台式扫描电镜等

溅射电流自动调整——设定溅射电流后,系统自动调节真空度,从而达到设定的溅射电流,调整时间<5s,波动范围<±5%;

无需按“实验”键调整溅射电流、无需操作“进气阀”。

真空室:φ128×100高硅硼玻璃

溅射时间自动记忆——同类样品一次设定即可;

参数改变自动调整——溅射过程中可以随时调整溅射电流和溅射时长,系统自动计算叠加,无需终止溅射过程;

工作完成自动放气;

样品台高度调节1秒完成;

溅射过程可以利用曲线显示,清晰直观。

极限真空:小于1Pa

软硬件互锁,防误操作,安全可靠

溅射电流高于50mA,停止溅射过程;

真空泵工作时,系统无法进行放气操作;

镀层均匀,导电性良好

探测器

样品室提供可扩展接口不少于14个,可以外接WDS、EDS、BSE、EBSD等多种附件和探测器。
样品室内二次电子探测器(ETD)(标配)。
样品室内插入式背散射探测器(标配)。
In-Column光电型探测器(标配)。
In-Column半导体型探测器(标配)。

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